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精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)

簡要描述:特點/應用
精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)
滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.
最大可用于6英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構,線性移動
可放置于手套箱內使用
形狀輕巧,操作方便,價格實惠

  • 產(chǎn)品型號:CINDBEST CM-4 |
  • 廠商性質:經(jīng)銷商
  • 更新時間:2023-06-20
  • 訪  問  量:1648
產(chǎn)品詳情

精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)

臺體尺寸

水平旋轉

2英寸*3英寸

10微米


可升降mm


真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環(huán)


左右各一個針座平臺,最多可放置6個探針座


樣品臺電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極


400mm長*380mm寬*500mm高


約20千克



精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)

光學系統(tǒng):

單筒顯微鏡/體式顯微鏡

16X-200X

水平方向繞立柱360度旋轉,Z軸50.8mm

外置LED無極調節(jié)亮度環(huán)形光源

200萬像素/500萬像素/1200萬像素



定位器:

12mm*12mm*12mm

10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

磁力吸附/真空吸附

同軸線/三軸線

10pA/100fA/10fA

彈簧固定/管狀固定

BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

鎢鋼/鈹銅



可選附件

顯示器

射頻測試配件

光學平臺

光電測試配件


規(guī)格及設計如有更改,恕不另行通知。


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